投稿者: admin

　弊社ではマイクロスコープや画像寸法測定器など豊富な検査設備を保有しており、徹底した品質管理体制を整えております。また、自動測定機能により人的測定誤差がなく検査時間を短縮し、製品の高品質・短納期でのご提供が可能となっております。

　
　KEYENCE　マイクロスコープ　20倍～2000倍
　※加工した製品の表面状態の仕上がりを確認する際に使用しています。

　
　KEYENCE　画像寸法測定器
　※大ロットの検査を行う場合、従来は抜き取り検査を実施していましたが、
　　画像寸法測定機を使用することで、全数検査が可能になり安定した製品を
　　ご提供いたします。

　
　工場顕微鏡 10倍～200倍
　※高倍率レンズを使用し、細かいバリの確認や画像測定機で判断が難しい
　　穴の深い加工部の測定などに使用しています。

その他検査設備
　ピンゲージ、ハイトゲージ、ディプスゲージ、ブロックゲージ、デジタルノギス、
　デジタルマイクロメーターなど外観検査、寸法検査に必要な設備をすべて保有しております。

　ご不明な点などございましたら、お気軽にご相談ください。
　お問い合わせはこちらまで。
　

　誠に勝手ながら、以下の期間を休業とさせていただきます。

【ゴールデンウィーク休業期間】
　2021年4月29日(木) ～ 5月5日(水)

　※休業期間中にお問い合わせいただきました件に関しては、
　　5月6日(木)より順次ご対応させていただきます。
　　ご不便をおかけ致しますが、何卒ご了承いただきますようお願い申し上げます。

【休業期間中の問い合わせ先】
　IC-socket @ kasasaku.co.jp (@前後の空白はありません)
　※緊急のご連絡の場合はその旨ご記載ください。

　弊社は、樹脂・金属加工を行う最新の工作機械を保有しております。長年の経験から得た技術・ノウハウを活用し、各材質の特性に合わせた加工方法を選択することで、高品質、低コスト、短納期を実現し、製品をご提供しております。

　
FANUC ロボドリル 7機保有


フライス盤 2機台保有


CAD／CAM 「Mastercam 2020」
その他、材料切断機2台など樹脂・加工に必要な設備をすべて保有しております。

　加工のみの受注や試作品1個からのご依頼も承っておりますので、
お気軽にご相談下さい。お問い合わせはこちらまで。

　電子機器に実装する基板を検査するICT検査用治具一式の製作をいたします。
　※ICT(イン・サーキット・テスト)とは、実装部品の故障や実装上の不具合検査、基板の機能確認を行う検査のことです。

　
　　　ICT検査用治具一式(外観写真)
　①基板ホルダー(検査する基板を載せる台座)
　②ICTパッド用接触プローブハーネス、基板保護カバー
　③ハンドル(接触プローブ、基板保護カバー操作用)


　使用例(LED基板のICT検査工程で使用)

【製品の仕様、特長】
・基板ホルダー部
　対応基板サイズ：20mm×20mm ～ Ａ３サイズ（297ｍｍ×420ｍｍ）
　※特殊形状のプリント基板にも柔軟に対応いたします。
・ICTパッド用接触プローブ、ハーネス部および保護カバー
　ピンピッチ：最小0.45ｍｍピッチからご対応が可能です。
　ピンの先端形状：一点（針状）、4つ割り、Ｒ（球形状）、円錐
　※ハーネスケーブル長、材質、コネクタはご希望の条件で製作いたします。
　※保護カバーは、プローブ接触状態を目視確認できるよう
　　透明度の高いアクリル材を使用しています。
・ハンドル部
　※基板サイズや形状により適した仕様のハンドルを選択し製作いたします。

　弊社は、設計・加工・組立・検査を自社で一貫生産することにより、高品質な製品を短納期・低価格でご提供できます。その他製品に関するお困りごとがございましたらお気軽にご相談下さい。 お問い合わせはこちらまで。

　弊社では、バーンインボードの機能試験、検査、測定にご使用いただける治具：テストヘッドをご提供しております。
　テストヘッドは、測定装置に接続するハーネス(ケーブル・コネクタ) ならびに持ち手で構成されており、ICの代わりにICソケットへ接触部を挿入して電気検査を行うことが可能です。

　　
≪写真1≫SOP24(0.5ｍｍピッチ)用テストヘッド
≪写真2≫テストヘッド接触部　拡大写真
≪写真３≫テストヘッド使用例

【製品の特長】
・各種ICソケットに合わせての製作が可能です。
　（クラムシェルタイプ（フタ付き）・オープントップタイプ）
・1000ピン以上の製作にも対応しております。
　コンタクト方式はプローブピン、板バネタイプがございます。
・手動用に加え、自動機に装着して使用可能な自動機用も対応いたします。

　弊社は創業当時よりテストヘッドを製作しており、30年以上にわたり培った経験と高い技術力を保有しております。
　併せてバーンインボード、各種検査用治具などの設計、製作も行っております。お気軽にご相談ください。お問い合わせはこちらまで。

 　弊社ではファインピッチ（狭ピッチ）に対応する「非磁性ＩＣソケット」をご提供しております。※非磁性ＩＣソケットは、磁気センサーのような磁性環境を嫌うデバイスにご使用いただけます。

≪写真1≫ 非磁性ICソケット002Ｇ（正面）／マニュアル測定用ＩＣソケット

≪写真2≫ 非磁性ICソケット（自動測定用：ハンドラー対応）とプリント基板

【特長】
　・ファインピッチ対応（最小0.4mmピッチから）
　・－55℃～＋220℃の温度環境下で対応が可能です。
　・非磁性仕様の材料ですべて構成されています。
　　※非磁性特殊プローブピンの他、非磁性板バネでのご提供も可能です。

　弊社ではプリント基板、ケーブルのアッセンブリーも含めてのご提供が可能です。自動測定対応のハンドラー追加など特殊仕様についても、お気軽にご相談ください。お問い合わせはこちらまで。

　弊社では、短納期（リピート3日、新カスタム5日～）での製作を請け賜わっております。年度末の超短納期のご用命お待ちしております。
※納期は、カスタム内容、ロット数などにより変動いたします。詳細につきましては、お問い合わせください。

　また試作品、少数ロットなどお困りのことがございましたら、お気軽にご相談ください。カスタムICソケットに関するお問い合わせ、ご依頼はこちらまで。

　ダブルアクション機構を搭載してICに均一な力を加えることが可能なゼロインサーションフォースシステムのご紹介をいたします。


≪写真1≫ 619ピンBGAソケット

　前回ご紹介した超精密加工技術に続き、今回は、100μｍ単位での長穴加工についてご紹介いたします。


≪写真1≫
材質：PEEK　長穴サイズ：巾0.22ｍｍ×長さ0.6ｍｍ
（撮影：マイクロスコープ×30）


≪写真2≫
長穴1箇所の拡大写真
（撮影：マイクロスコープ×200）

　弊社の超微細長穴加工は、最小巾0.12ｍｍから実績がございます。また深さについては、巾の10倍以上で加工が可能です。
　30年以上に渡る樹脂加工の経験から高アスペクト比の加工を実現しています。加工のみの受注や試作品、小ロットのご依頼も承っておりますので、お気軽にご相談下さい。お問い合わせは、こちらまで。

　弊社では、IC測定にケルビン接続ソケットもご提供しております。
（※ケルビン接続とは、4端子法（4線式）で抵抗測定を正確に行うために 用いられる接続方法です。）


≪図面≫ケルビン測定部レイアウト（例 BGA 35Pケルビン測定部は8箇所）
　※全箇所ケルビン測定可能です。


≪写真≫ケルビン接続ソケット（002G）

【弊社の特長】
　 端子間ピッチは、最小0.4ｍｍからの製作が可能です。
また並列ピッチ、格子状ピッチ両方の対応が可能となっております。
（※お客様の仕様に合わせて、製作可能です。）
カスタムICソケットに関するお問い合わせは、こちらまで。