新着情報

　この度、当社史上最小の「クラムシェルタイプ　ICソケット」004Gを開発いたしました。
基板への搭載数が、従来品（002G）の1.5倍強になり、基板製作数を抑えることで、
トータルコストダウンが見込めます。また対象デバイスの近くに実装電子部品を配置可能です。

詳しくはパンフレット（PDF）をご覧ください。

ご不明な点などございましたら、お気軽にご相談ください。
お問い合わせはこちらまで。

　弊社は、お客様のご要望に応じてすべてを作成するフルカスタムのICソケットの他に一定の大きさの中に自由にICを配置できる
セミカスタムのICソケットシリーズ 001G、002G、003Gがございます。

　　　
　001G（クラムシェルタイプ）002G（クラムシェルタイプ）003G（蓋分離タイプ）

【セミカスタムICソケットの特徴】
　・ICの大きさにより搭載数の選択が可能です。
　・ICに合わせて枠の中身だけを製作する為、フルカスタムに比べ短納期で製作が可能です。
　・成形品、標準部品を使用することで、フルカスタムに比べ低価格でご提供いたします。
　以下フルカスタムICソケットとの比較もご覧ください。(クリックでPDFがダウンロードできます)
　
　IC搭載例のバリエーションは、上記パンフレット（PDF）をご覧ください。
またご不明な点などございましたら、お気軽にご相談ください。お問い合わせはこちらまで。

　弊社では徹底した性能評価試験、耐久性評価試験を行うことで、
製品の問題点や改善点を明らかにし、信頼性の高い製品を開発しています。
今回は、弊社の性能評価設備、耐久性評価試験設備の一部をご紹介いたします。

　
　荷重測定機　ロードセル：50N～500N
　物を引っ張る力や押す力を測定する機器で最大500Ｎまでの荷重を計測する、
　精密荷重試験機。
　※主に高荷重を測定する際に使用しています。

　
　カム式耐久試験機
　上下ストロークによりスイッチやコンタクトプローブ等の
　ストローク機構の耐久試験を行う試験機。
　※主にコンタクトプローブの耐久性能を測定する際に使用しています。

　
　ソケットピン圧測定装置　ロードセル：1N
　ソケットピンのばね圧を測定する自動装置です。
　設定した1番ピンから指定した距離、高さの圧力を測定・記録を行います。
　※ソケットの性能評価試験や出荷検査の際に使用しています。

　ご不明な点などございましたら、お気軽にご相談ください。
　お問い合わせはこちらまで。

　弊社ではマイクロスコープや画像寸法測定器など豊富な検査設備を保有しており、徹底した品質管理体制を整えております。また、自動測定機能により人的測定誤差がなく検査時間を短縮し、製品の高品質・短納期でのご提供が可能となっております。

　
　KEYENCE　マイクロスコープ　20倍～2000倍
　※加工した製品の表面状態の仕上がりを確認する際に使用しています。

　
　KEYENCE　画像寸法測定器
　※大ロットの検査を行う場合、従来は抜き取り検査を実施していましたが、
　　画像寸法測定機を使用することで、全数検査が可能になり安定した製品を
　　ご提供いたします。

　
　工場顕微鏡 10倍～200倍
　※高倍率レンズを使用し、細かいバリの確認や画像測定機で判断が難しい
　　穴の深い加工部の測定などに使用しています。

その他検査設備
　ピンゲージ、ハイトゲージ、ディプスゲージ、ブロックゲージ、デジタルノギス、
　デジタルマイクロメーターなど外観検査、寸法検査に必要な設備をすべて保有しております。

　ご不明な点などございましたら、お気軽にご相談ください。
　お問い合わせはこちらまで。

　弊社は、樹脂・金属加工を行う最新の工作機械を保有しております。長年の経験から得た技術・ノウハウを活用し、各材質の特性に合わせた加工方法を選択することで、高品質、低コスト、短納期を実現し、製品をご提供しております。

　
FANUC ロボドリル 7機保有


フライス盤 2機保有


CAD／CAM 「Mastercam 2020」
その他、材料切断機2台など樹脂・加工に必要な設備をすべて保有しております。

　加工のみの受注や試作品1個からのご依頼も承っておりますので、
お気軽にご相談下さい。お問い合わせはこちらまで。

　前回ご紹介した超精密加工技術に続き、今回は、100μｍ単位での長穴加工についてご紹介いたします。


≪写真1≫
材質：PEEK　長穴サイズ：巾0.22ｍｍ×長さ0.6ｍｍ
（撮影：マイクロスコープ×30）


≪写真2≫
長穴1箇所の拡大写真
（撮影：マイクロスコープ×200）

　弊社の超微細長穴加工は、最小巾0.12ｍｍから実績がございます。また深さについては、巾の10倍以上で加工が可能です。
　30年以上に渡る樹脂加工の経験から高アスペクト比の加工を実現しています。加工のみの受注や試作品、小ロットのご依頼も承っておりますので、お気軽にご相談下さい。お問い合わせは、こちらまで。

　今回ご紹介するのは、本体がセラミックのICソケットになります。
セラミックは絶縁性があり耐熱性に優れていることから高温環境下での試験用に開発いたしました。
挿入型半導体パッケージ（DIP用IC）の検査にご使用いただけます。

≪図1≫接続例（リングスリーブ圧着接続）

【製品の特長】
・500℃の高温環境でご使用いただけます。
・DIPタイプ（16ピン）300mil対応品ですが、固定ピンの交換により600mil又は750milまで使用できます。
・ICソケットのリード部に電線を接続し使用できます。※図1参照

　納期は、受注後2か月～となります。※数により変動がございます。
ご不明な点などございましたら、お気軽にご相談ください。
お問い合わせはこちらまで。

　弊社は、樹脂材料に対して直径0.1mm以下といった
超精密加工技術を保有しております。
（0.1ｍｍ：髪の毛がやっととおる小ささ）
本樹脂超精密加工技術をご紹介します。

　

≪写真1≫
PEEK樹脂にΦ0.17mmの穴を0.4ｍｍピッチで500個空けたもの
（1ブロック：20穴×25＝500）

≪写真2≫
写真1の1ブロック20穴(赤丸の部分)を拡大したもの
（撮影：マイクロスコープ×50）

　弊社は、1987年より弊社の保有する超精密加工技術を用いて、
カスタムICソケットを各種、設計、製造しております。
　納入実績として、100社以上のお客様にご使用いただいております。
超精密加工、カスタムICソケットに関するお問い合わせは、こちらまで。

　弊社では、バーンインボードの機能試験、検査、測定にご使用いただける治具：テストヘッドをご提供しております。
　テストヘッドは、測定装置に接続するハーネス(ケーブル・コネクタ) ならびに持ち手で構成されており、ICの代わりにICソケットへ接触部を挿入して電気検査を行うことが可能です。

　　
≪写真1≫SOP24(0.5ｍｍピッチ)用テストヘッド
≪写真2≫テストヘッド接触部　拡大写真
≪写真３≫テストヘッド使用例

【製品の特長】
・各種ICソケットに合わせての製作が可能です。
　（クラムシェルタイプ（フタ付き）・オープントップタイプ）
・1000ピン以上の製作にも対応しております。
　コンタクト方式はプローブピン、板バネタイプがございます。
・手動用に加え、自動機に装着して使用可能な自動機用も対応いたします。

　弊社は創業当時よりテストヘッドを製作しており、30年以上にわたり培った経験と高い技術力を保有しております。
　併せてバーンインボード、各種検査用治具などの設計、製作も行っております。お気軽にご相談ください。お問い合わせはこちらまで。

　電子機器に実装する基板を検査するICT検査用治具一式の製作をいたします。
　※ICT(イン・サーキット・テスト)とは、実装部品の故障や実装上の不具合検査、基板の機能確認を行う検査のことです。

　
　　　ICT検査用治具一式(外観写真)
　①基板ホルダー(検査する基板を載せる台座)
　②ICTパッド用接触プローブハーネス、基板保護カバー
　③ハンドル(接触プローブ、基板保護カバー操作用)


　使用例(LED基板のICT検査工程で使用)

【製品の仕様、特長】
・基板ホルダー部
　対応基板サイズ：20mm×20mm ～ Ａ３サイズ（297ｍｍ×420ｍｍ）
　※特殊形状のプリント基板にも柔軟に対応いたします。
・ICTパッド用接触プローブ、ハーネス部および保護カバー
　ピンピッチ：最小0.45ｍｍピッチからご対応が可能です。
　ピンの先端形状：一点（針状）、4つ割り、Ｒ（球形状）、円錐
　※ハーネスケーブル長、材質、コネクタはご希望の条件で製作いたします。
　※保護カバーは、プローブ接触状態を目視確認できるよう
　　透明度の高いアクリル材を使用しています。
・ハンドル部
　※基板サイズや形状により適した仕様のハンドルを選択し製作いたします。

　弊社は、設計・加工・組立・検査を自社で一貫生産することにより、高品質な製品を短納期・低価格でご提供できます。その他製品に関するお困りごとがございましたらお気軽にご相談下さい。 お問い合わせはこちらまで。