半導体の性能を正しく評価するためには、極めて微小な抵抗値を正確に測定することが不可欠です。
本製品は、配線抵抗や接触抵抗による測定誤差を排除する「ケルビン接続」を採用した検査用ソケットです。
6ピン仕様ケルビンICソケット 全体写真とコア部拡大写真
ケルビン接続（4端子測定）とは？
一般的な「2端子法」では、測定用の配線自体が持つ抵抗や、端子との接触抵抗が測定値に上乗せされてしまい、正確な抵抗値が測定できません。
これを解決するのが「ケルビン接続（4端子法）」です。
1. フォース線（電流供給）とセンス線（電圧測定）を独立した経路で接続します。
2. 電圧を測る線には電流が流れないため、配線抵抗の影響（電圧降下）を受けません。
3. 結果として、デバイス本来の「真の抵抗値」だけを精密に測定できます。
【製品の特長】
1. ICデバイスから多種多様な半導体に対応
ICデバイスはもちろん、さらに微細なチップコンデンサや各種電子部品など、多種多様な半導体に対応したソケットを製作可能です。（0.6mm×0.3mmの製作実績あり）
長年の設計ノウハウにより、省スペースでの高精度な4端子測定を実現します。
2. 共通性を活かした「汎用設計」で、複数デバイスの載せ替えに対応
共通性のあるデバイス（形状やピンレイアウト）に対し、汎用性を持たせたカスタム設計を行うことで、1つのソケットでの載せ替え測定を可能にします。
品種ごとに専用ソケットを新調する必要がなくなり、治具コストの削減と検査工程の集約に大きく貢献します。
※パッケージサイズやピンレイアウトの共通範囲については、仕様を確認の上ご提案いたします。
3. 成型部品の採用によるコストダウン
一部のパーツに成型部品を効果的に活用することで、高い信頼性を維持しながら製品価格を抑えることに成功しました 。導入コストを低減し、複数台のテスト環境構築をサポートします 。
【製品仕様】参考：6ピンパッケージ仕様例
| 項目 | 内容 |
| 形状 | クラムシェルタイプ（002G）*1 |
| 接触子 | 板バネピン |
| ピッチ | 0.65mm |
| 適応パッケージサイズ | 2.0mm × 2.0mm |
| 耐熱温度 | -55℃ ～ +180℃ |
| 材質 | PEI |
*1 寸法は002Gシリーズに準じます
▶ベースとなる「GSシリーズ」ICソケット一覧表（PDF）はこちら
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